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61FVXS-RSM1-GAN-TF FPC 0.2MM 61P翻盖

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2520探针翻盖晶振老化座

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4-1.5X1.5~12.0X12.0-55-+175度晶振-4-2.5X2.0

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5032探针翻盖晶振老化座2PIN

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4-1.5X1.5~12.0X12.0-55-+175度晶振-4-5.0X3.2

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5032探针翻盖晶振老化座4PIN

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4-1.5X1.5~12.0X12.0-55-+175度晶振-4-5.0X3.2

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7050探针翻盖晶振老化座4PIN

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4-1.5X1.5~12.0X12.0-55-+175度晶振-4-7.0X5.0

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A-CQFP-208-0.5-58.0X58.0-28.0X28.0-H2.975翻盖型31.36X

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CQFP-208-0.5-58.0X58.0-28.0X28.0-H2.975翻盖型31.36X

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A-LCC-12-2.54-14.5*14.8 翻盖的金属的

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SZJ/AUTMWELL

LCC-12-2.54-14.5X14.8MM 翻盖的金属的

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BGA-107-0.5-10.5X13.0双扣/翻盖/PG

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转48PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转48PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片转48PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片8CE转48PIN适配器

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BGA-137-0.8-11.0X14.0 翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-11.0X14.0H0.8-1.5 翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-11.5X13.0 翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-12.0X18.0 翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-12.0X20.0 翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-13.0X17.0翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-13.0X17.0H0.8-1.5翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-13.0X18.0 翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-14.0X18.0 翻盖探针转DIP48测座

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BGA-137-0.8-14.0X18.0H0.8-1.5 翻盖探针转DIP48测座

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BGA-144-1.27-15.0X15.0-12X12H6.6-D0.75/0.6 老化用 金属翻盖

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BGA-144-1.27-15.0X15.0-12X12H6.6-D0.75/0.6 老化用 金属

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖弹片转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖弹片转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片SSD转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片转48PIN适配器

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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP162转20PIN测试座 翻盖式

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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP186转20PIN测试座 翻盖式

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BGA-170-0.8-12.0X14.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座

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BGA-192-1.0-15.0X15.0双扣/翻盖/PG

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP153转20PIN测试座 翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP169转20PIN测试座 翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP186转20PIN测试座 翻盖式

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221翻盖芯片测试座

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221/EMCP

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BGA24(4X6)-1.0-翻盖带PCB适配器

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BGA-24-1.0-6.0X8.0-4X6翻盖带PCB适配器

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BGA24(5X5)-1.0-翻盖带PCB适配器

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BGA-24-1.0-6.0X8.0-5X5翻盖带PCB适配器

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BGA-256-0.8-17.0X17.0双扣/翻盖/PG

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BGA-256-0.8-17.0X17.0

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BGA-292-0.5-17.0X17.0双扣/翻盖/PG

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BGA-388-0.8-27.0X27.0双扣/翻盖/PG

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BGA-388-0.8-27.0X27.0

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BGA-503-18.0X18.0-双扣/翻盖/PG

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BGA-503-18.0X18.0-

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BGA-63-0.8翻盖探针测试座

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BGA-63-0.8翻盖探针测试座

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BGA-63-0.8翻盖探针转48PIN适配器

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BGA-63-0.8翻盖探针转48PIN适配器

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BGA-784-1.0-37.5X37.50双扣/翻盖/PG

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BGA-784-1.0-37.5X37.50

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BGA-88-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片转48PIN适配器

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BGA-88-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片8CE转48PIN适配器

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BGA-88-1.0-12.0X18.0MM翻盖弹片转DIP48测座

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BGA-88-1.0-12.0X18.0MMBGA-100-1.0-12.0X18.0MM

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BGA-88-1.0-12.0X18.0MM翻盖探针转DIP48测座

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BGA-88-1.0-12.0X18.0MM-8X11-D0.5/0.32MMBGA100翻盖探针转

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BGA-9-0.5-1.57X1.6-3X3-H0.569 老化 塑料翻盖

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BGA-9-0.5-1.57X1.6-3X3-H0.569 老化 塑料翻盖

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BGA-96-0.8-13.5X7.5-16X6翻盖金属

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BGA-96-0.8-13.5X7.5-16X6

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BGA-96-0.8-翻盖弹片二边转96通用测试PCB板

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BGA-96-0.8-翻盖弹片二边转96通用测试PCB板

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CQFN-16-1.27-9.0X9.0 旋钮翻盖 测试

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CQFN-16-1.27-9.0X9.0H1.80-POGOPIN

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DDR3×16一拖四内存颗粒测试治具BGA-96-0.8-铝合翻盖FR4

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BGA-96-0.8 DDR3小于13X14尺寸 1.5A 28G PG 2.4KMHZ

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DDR3X16一拖八内存颗粒测试治具BGA-96-0.8-铝合翻盖FR4

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BGA-96-0.8 DDR3小于13X14尺寸 1.5A 28G PG 2.4KMHZ

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DFN-8-0.5-3.0X2.0-4;0翻盖单层板二边通用测试板

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DFN-8-0.5-3.0X2.0-4;0

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-12.0X16.0

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-12.0X16.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试

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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座 翻盖式

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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座 翻盖式

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EMCP221转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-221-0.5-11.5X13.0H1.4 EMCP221转20PIN测试座(翻盖)

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EMCP-FBGA-162-0.5合金翻盖弹片转SD测座

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EMCP-FBGA-162-0.5合金翻盖弹片转SD测座

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EMCP-FBGA-162-0.5合金翻盖探针转SD测座

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EMMC-FBGA-162-0.5-任意尺寸EMCP-162-0.5合金翻盖探针转SD测试座

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EMCP-FBGA-186-0.5合金翻盖弹片转SD测座

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EMCP-FBGA-186-0.5合金翻盖弹片转SD测座

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EMCP-FBGA-221-0.5合金翻盖弹片转SD测座

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EMCP-FBGA-221-0.5合金翻盖弹片转SD测座

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EMCP-UBGA-153-0.5-11.5X13.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMCP-UBGA-186-0.5合金翻盖探针转SD测座

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EMMC-UBGA-186-0.5-任意尺寸EMCP-186-0.5合金翻盖探针转SD测试座

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EMCP探针翻盖USB带盒子测试工具

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EMCP-186-0.5 EMCP-169-0.5

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EMMC-153/169-0.5翻盖普通弹片老化测试座

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BGA-153-0.5 BGA-169-0.5翻盖普通弹片老化测试座

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EMMC153-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-153-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC153-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC153-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC153-0.5-14.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-153-0.5-14.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC153-169-0.5-11.5X13.0翻盖探针转SD测试座

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EMMC153-169-0.5-11.5X13.0翻盖探针转SD测试座

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EMMC153翻盖弹片带盒子测试工具带盒子

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BGA-153-0.5

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EMMC169-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-169-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-169-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169-0.5-14.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-169-0.5-14.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169翻盖弹片带盒子测试工具带盒子

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BGA-169-0.5

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EMMC-FBGA-162-0.5-任意尺寸EMCP-162-0.5翻盖探针转SD测座

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EMMC-FBGA-162-0.5-任意尺寸EMCP-162-0.5翻盖探针转SD测试座

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EMMC-FBGA-162-0.5-任意尺寸可以定制铝合旋钮翻盖

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FBGA-162-0.5-任意尺寸可以定制铝合旋钮翻盖PG MAX5G 寿命十万

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EMMC-FBGA-186-0.5-任意尺寸EMCP-186-0.5翻盖探针转SD测座

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EMMC-FBGA-186-0.5-任意尺寸EMCP-186-0.5翻盖探针转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-任意尺寸翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-任意尺寸可以定制铝合旋钮翻盖

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UBGA-152-0.5-任意尺寸可以定制铝合旋钮翻盖PG MAX5G 寿命十万

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EMMC-UBGA--169-0.5翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-169-0.5-任意尺寸翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-169-0.5-任意尺寸可以定制铝合旋钮翻盖

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UBGA-169-0.5-任意尺寸可以定制铝合旋钮翻盖PG MAX5G 寿命十万

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EMMC-UBGA-186-0.5-任意尺寸可以定制铝合旋钮翻盖

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UBGA-186-0.5-任意尺寸可以定制铝合旋钮翻盖PG MAX5G 寿命十万

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FBGA-256-1.0-17.0X17.0-16X16-H1.86-D0.6/0.5 旋钮翻盖型 测试 进口 POGOPIN(爪子型)

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SZJ/MAP

FBGA-256-1.0-17.0X17.0-16X16-H1.86-D0.6/0.5 旋钮翻盖型

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FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座 芯片测试座 适配器

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FP-28-1.27-08A CNV-SOP-DIP28翻盖编程座 芯片测试座 适配器

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GDDR5通用测试座 -铝合翻盖FR4

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BGA-170-0.8-12.0XMAX27.0-14X17 DDR3 BGA-238-0.8-12

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IPHONE苹果4大小硬盘芯片测试座 硬盘翻盖探针 修改序列号测试座

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IPHONE苹果4大小硬盘芯片测试座 硬盘翻盖探针

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LCC-8-1.27-3.8X3.8-3;1-H1.4 POGOPIN 翻盖结构

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LCC-8-1.27-3.8X3.8-3;1-H1.4 POGOPIN 翻盖结构

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LGA/BGA-144-1.27-17.0X17.0-13X13 兼容 要求POGOPIN 翻盖式旋钮型

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LGA/BGA-144-1.27-17.0X17.0-13X13 兼容 要求POGOPIN 翻

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LGA-117-1.0-14.0X10.0-9X13H1.44翻盖

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LGA-117-1.0-14.0X10.0-9X13H1.44翻盖

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LGA-52-X-14.0X18.0MM翻盖弹片转48测试座带板

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LGA-52-X-14.0X18.0MM翻盖弹片转48测试座带板

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LGA-52-X-14.0X18.0MM翻盖探针转48测试座带板

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LGA-60翻盖探针转DIP48测试座

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LGA-60翻盖探针转DIP48测试座

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MSOP-0.5-10/MSOP-10-0.5翻盖式

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MSOP-10-0.5-4.9X3.0X3.0H1.0

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MSOP-0.5-10/MSOP-10-0.5翻盖式

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MSOP-10-0.5-5.0X3.1X3.1 MSOP-10-0.5-4.9X3.0X2.97

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MSOP-0.65-12X2/MSOP-12-0.65双工位翻盖式

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MSOP-12-0.65-5.13X3.1X4.1 MSOP-8-0.65-4.9X3.0X4.1H

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MSOP-0.65-8X2/MSOP-8-0.65双工位翻盖式

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MSOP-8-0.65-5.1X3.1X3.1 MSOP-8-0.65-4.9X3.0X3.0H1.

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MSOP8-0.65-POGOPIN翻盖

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MSOP-8-0.65-4.9X3.0X3.0H1.0

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QFN12(2X2)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-12-0.5-2.0X2.0-3;3-H0.85

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QFN12(3X3)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-12-0.5-3.0X3.0-3;3-H0.85

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QFN20(3X3)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-20-0.5-3.0X3.0MM(5;5)翻盖

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QFN20(4X4)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-20-0.5-4.0X4.0-5;5-H0.85

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QFN40(5X5)-0.4-CP01GT翻盖双层板二边通用测试板

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QFN-40-0.4-5.0X5.0MM(10;10)+G翻盖

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QFN48(6X6)-0.4-CP01GT翻盖双层板二边通用测试板

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QFN-48-0.4-6.0X6.0MM(12;12)

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QFP-100-0.65-13.0X13.0-10X10H1.65 实际间距0.325 只有翻盖定制

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QFP-100-0.65-13.0X13.0-10X10H1.65 实际间距0.325 只有翻盖

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SMQ7K325TFFG676 A-BGA-676-1.0-27*27老化翻盖 FOR PCB

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CBGA-676-1.0-27.0X27.0-26X26-H2.67-D0.6/0.5

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SOP-8-1.27-6.0X3.9X4.9 -POGOPIN 塑胶翻盖 2.5A 老化

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SOP-8-1.27-6.0X3.9X4.9 -POGOPIN 塑胶翻盖 2.5A 老化

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SOT23-3-0.95翻盖探针测试座

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SOT-23-3-0.95-1.6X2.9翻盖探针测试座

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SOT23-3-0.95翻盖探针测试座加板适配器

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SOT-23-3-0.95-1.6X2.9翻盖探针测试座加板适配器

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TF19翻盖探针转DIP48测座

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TF19翻盖探针转DIP48测座带板

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TF24翻盖探针转DIP48测座

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苹果大小LGA硬盘翻盖探针带排线测试座

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苹果大小LGA硬盘翻盖探针带排线测试座

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30PIN/0.5MM/立式/翻盖/101058-203050/北极大

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40PIN/0.5MM/立式/翻盖/101058-204050/北极大

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40PIN/0.5MM/下接/翻盖/101049-204050/北极大

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60PIN PH=0.5MM 翻盖式下接 FP2011-600N

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6PIN-0.5MM/下接/翻盖/101049-200650/北极大

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C70710M0065122A;翻盖;贴片;

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CNT_FPC_0.5MM_30PIN_H2.0_翻盖后压_LF_圣高精密_FP2072-3001

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CNT_FPC_0.5MM_6PIN_H2.0_翻盖前压_LF_圣高精密_FP2011-060N

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卡座-MICRO SIM CARD-表贴-翻盖式-MUP-MUP-C791-3

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