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  • A-BGA-256-1.27-24*24测试

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A-BGA-256-1.27-24*24测试

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A-BGA-256-1.27-24*24测试

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原装LOTES 黑色 IC芯片测试座 SPI FLASH 烧录座 SMT贴片SOP8PIN

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LOTES

CONNECTOR

12+PBFREE

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A-BGA-256-1.27-24*24老化

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SZJ/AUTMWELL

BGA-256-1.27-24.0X24.0MM-16X16-H2.2-D0.89/0.7-0.6

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A-BGA-841-0.8-24.5*24.5 测试

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SZJ/AUTMWELL

BGA-841-0.8-24.5X24.5 测试

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A-BGA-96-0.8-10*14(POGOPIN)测试

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BGA-96-0.8-14.0X10.0- DDR3

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A-BGA-96-0.8-7.5*13.5(POGOPIN)测试

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SZJ/AUTMWELL

BGA-96-0.8-13.5X7.5- DDR3

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A-CLGA-484-1.27-29*29(不植球) 鋁料+旋扭 测试

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CLGA-484-1.27-29.0X29.0MM(不植球) 鋁料+旋扭 测试

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A-CQFP-48-0.5-7.8X7.8(9.0X9.0)测试用

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CQFP-48-0.5-9.0X9.0MM(7.8X7.8MM)测试用 QFP

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A-DFN-6-0.5-2.0X2.0测试

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SZJ/AUTMWELL

DFN-6-0.5-2.0X2.0测试

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A-LGA-144-1.27-16.15*16.15测试

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SZJ/AUTMWELL

LGA-BGA-144-1.27-16.15X16.15-12X12

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A-LGA-601-1.27-40*40测试

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SZJ/AUTMWELL

LGA-601-1.27-40.0X40.0MM测试

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A-LGA-708-1.0-25*31测试

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SZJ/AUTMWELL/BLD

LGA-708-1.0-25.0X31.0MM-24X30 LGA-720-1.0-25.0X31.

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A-MSOP-8-0.65-3*3-测试

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MSOP-8-0.65-4.9X3.0X3.0 2M 2A 30V -40-+150度

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A-SON-3-1.3-2.4*3-DIP测试

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SON-3-1.3-2.4X3.0-DIP测试 DFN-3-1.3-3.0X2.4

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A-SOP-4-1.27-4.4*2.7-DIP 测试

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SZJ/AUTMWELL

SOP-4-1.27-4.4X2.7-DIP 测试

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A-TSSOP-16-0.65-4.4*5测试

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TSSOP-16-0.65-6.4X4.3X4.9H1.1 2M 50MA 50V -40-+150

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BGA-100-1.0-13.0X15.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-88-1.0-13.0X15.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座

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BGA-132-0.5U2/3的测试夹具

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BGA-132-0.5 U2/3的测试夹具

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-132-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA132转48适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA132转48适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA32转96适配器

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BGA-132-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA132转96适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具翻盖弹片转96PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具下压弹片转48PIN适配器

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BGA-152-0.5测试夹具下压弹片转48PIN适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA152转48适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA152转48适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA152一拖二转96适配器

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BGA-152-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA152一拖二转96适配器

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BGA-170-0.8-12.0X18.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座

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BGA-170-0.8-12.0X18.0/GDDR5翻盖探针通用芯片测试座

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP169转20PIN测试座 翻盖式

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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP186转20PIN测试座 翻盖式

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221翻盖芯片测试座

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221/EMCP

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BGA-221-0.5-11.5X13.0 LPDDR221芯片测试座

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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP162转20PIN测试座下压式

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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP162转20PIN测试座下压式

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BGA-63-0.8翻盖探针测试座

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BGA-63-0.8翻盖探针测试座

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BGA-77-1.27-15.0*9.0-11*7-POGOPIN 旋钮测试

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B&T

BGA-77-1.27-15.0*9.0-11*7-POGOPIN 旋钮测试

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BGA-88-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片转48PIN适配器

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BGA-88-0.5测试夹具翻盖一拖二弹片8CE转48PIN适配器

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BGA-88-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA88一拖二转96适配器

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BGA-88-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA88一拖二转96适配器

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BGA-96-0.8-10.5X12 DDR3X16一拖八测试冶具

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BGA-96-0.8-10.5X12 DDR3X16一拖八测试冶具

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BGA-96-0.8-8.0X10.0 GDDR3一拖四显示内存测试冶具

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BGA-96-0.8-8.0X10.0 GDDR3一拖四显示内存测试冶具

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BGA-96-0.8-8.5X10.0 GDDR5一拖二显示内存测试冶具

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BGA-96-0.8-8.5X10.0 GDDR5一拖二显示内存测试冶具

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BGA-96-0.8-9.0X10.5 DDR4一拖四显示内存条测试座

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BGA-96-0.8-9.0X10.5 DDR4一拖四显示内存条测试座

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BGA-96-0.8-翻盖弹片二边转96通用测试PCB板

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BGA-96-0.8-翻盖弹片二边转96通用测试PCB板

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CISCO/华为SD5802芯片测试治

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BGA-2916-CISCO 2HA3-0001/华为SD5802芯片测试治

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DDR3×16一拖四内存颗粒测试治具BGA-96-0.8-铝合翻盖FR4

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BGA-96-0.8 DDR3小于13X14尺寸 1.5A 28G PG 2.4KMHZ

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DDR3X16一拖八内存颗粒测试治具BGA-96-0.8-铝合翻盖FR4

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BGA-96-0.8 DDR3小于13X14尺寸 1.5A 28G PG 2.4KMHZ

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DFN-12-0.4 QFN-12-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

DFN-12-0.4 QFN-12-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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DFN-12-0.5 QFN-12-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

DFN-12-0.5 QFN-12-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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DFN-8-0.5-3.0X2.0-4;0翻盖单层板二边通用测试板

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DFN-8-0.5-3.0X2.0-4;0

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0

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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0

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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-11.5X13.0

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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试

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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-12.0X16.0

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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试

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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座 翻盖式

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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座 翻盖式

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EMCP221转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-221-0.5-11.5X13.0H1.4 EMCP221转20PIN测试座(翻盖)

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EMCP-UBGA-153-0.5-11.5X13.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X16.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0 SMT翻盖分析测试冶具

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EMCP-UBGA-153-0.5-12.0X18.0螺丝固定/PG/翻盖旋钮

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EMMC-153-0.5-11.5X13.0SMT无盖分析测试冶具

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EMMC EMCP-UBGA-153-0.5-11.5X13.0螺丝固定/PG/无盖

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EMMC153-0.5-11.5X13.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-11.5X13.0下压弹片转SD测试座

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EMMC153-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-153-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC153-0.5-12.0X16.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-12.0X16.0下压弹片转SD测试座

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EMMC153-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-153-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC153-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(下压)

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BGA-153-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(下压)

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EMMC153-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(下压)

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BGA-153-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(下压)

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EMMC153-169-0.5-12.0X18.0下压弹片转SD测试座

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BGA-153-0.5-12.0X18.0 FBGA-169-0.5-12.0X18.0下压转SD

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EMMC153翻盖弹片带盒子测试工具带盒子

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BGA-153-0.5

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EMMC169-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(下压)

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BGA-169-0.5-11.5X13.0转20PIN测试座(下压)

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EMMC169-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-169-0.5-12.0X16.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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BGA-169-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(翻盖)

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EMMC169-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(下压)

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BGA-169-0.5-12.0X18.0转20PIN测试座(下压)

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EMMC30/153-0.5-11.5X13.0探针转SD接口测试座

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BGA-30/153-0.5-11.5X13.0探针转SD接口测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5翻盖弹片转SD测试座

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EMMC-UBGA-153-0.5-任意尺寸翻盖弹片转SD测试座

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GDDR5通用测试座 -铝合翻盖FR4

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BGA-170-0.8-12.0XMAX27.0-14X17 DDR3 BGA-238-0.8-12

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IPHONE苹果4大小硬盘芯片测试座 硬盘翻盖探针 修改序列号测试座

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IPHONE苹果4大小硬盘芯片测试座 硬盘翻盖探针

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LGA-52-X-14.0X18.0MM翻盖弹片转48测试座带板

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LGA-52-X-14.0X18.0MM翻盖弹片转48测试座带板

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LGA-60翻盖探针转DIP48测试座

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LGA-60翻盖探针转DIP48测试座

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LGA60下压弹片转DIP48测试座

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LGA-60下压弹片转DIP48测试座带板

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POP双层IC测试治具

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POP双层IC测试治具

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QFN12(3X3)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-12-0.5-3.0X3.0-3;3-H0.85

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QFN-128-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

QFN-128-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-128-0.4-14.0X14.0-32;32H0.75(POGOPIN) 测试用旋钮金属

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SZJ/MAP

QFN-128-0.4-14.0X14.0-32;32H0.75(POGOPIN) 测试用旋钮金

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QFN20(4X4)-0.5-CP01GT+翻盖四边通用测试板

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QFN-20-0.5-4.0X4.0-5;5-H0.85

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QFN-20-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

QFN-20-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-20-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-20-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN24(4X4)-0.5-TP01GT四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-24-0.5-4.0X4.0MM(6;6)+G 下压

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QFN-28-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

QFN-28-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-28-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-28-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN32(5X5)-0.5-CP01GT四边出脚通用测试座带板

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QFN-32-0.5-5.0X5.0-8;8

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QFN-32-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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SZJ/南韩POGOPIN

QFN-32-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-32-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-32-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN36(6X6)-0.5-CP01GT两边出脚双层通用测试用带PCB

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QFN-36-0.5-6.0X6.0(9;9)+G翻盖

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QFN-36-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-36-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN40(5X5)-0.4-CP01GT翻盖双层板二边通用测试板

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QFN-40-0.4-5.0X5.0MM(10;10)+G翻盖

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QFN-40-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-40-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-40-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-40-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN48(6X6)-0.4-CP01GT翻盖双层板二边通用测试板

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QFN-48-0.4-6.0X6.0MM(12;12)

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QFN-52-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-52-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-52-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-52-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-68-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN-68-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFN72(10X10)-0.5-CP01G四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-72-0.5-10.0X10.0MM(18;18)+G翻盖

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QFN72(10X10)-0.5-TP01G四边出脚通用测试用带PCB

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QFN-72-0.5-10.0X10.0MM(18;18)+G下压

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QFP-100-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-100-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-32-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-32-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-44-0.8-TP01NT带板通用测试用适配器

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QFP-44-0.8-12.0X12.0-10.0X10.00

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QFP-48-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-48-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头针

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QFP-48-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-48-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-48-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-48-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.4 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-64-0.5 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-80-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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QFP-80-0.8 旋钮测试用进口POGOPIN针双头

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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN直针夹子

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SOP-16-1.27-7.62-300MIL测试夹具/16PIN直针夹子

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SOP-8-1.27-7.62-300MIL在线测试夹具/8PIN快速夹具带杜邦线连接器

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SOP-8-1.27-7.62-300MIL在线测试夹具/8PIN快速夹具带杜邦线连接器

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TQFP-100-0.5-16X16H1.2 POGOPIN-100MHZ旋钮测试插座

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TQFP-100-0.5-16X16H1.2 POGOPIN-100MHZ旋钮测试插座

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UBGA-169-0.5-10.0X13.0-14X14 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-10.0X13.0-14X14 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-6.0X6.0-13X13 EMMC带盒子测试座

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UBGA-169-0.5-9.0X9.0-16X16 EMMC带盒子测试座

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UBGA-30-0.5-12.0X16.0MM EMMC169转20测试座下压式

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UBGA-30-0.5-12.0X16.0MM EMMC169转20测试座下压式

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XC65SLX55-3CSG324I BGA-324-0.8-15.0X15.0-18X18-H1.25-D0.45/0.4 测试旋钮

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XC65SLX55-3CSG324I BGA-324-0.8-15.0X15.0-18X18-H1

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ZMBQ-18S05MPS15 A H -DIP-6-9.9 老化测试

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ZMBQ-18S05MPS15 A H -DIP-6-9.9 老化测试

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ZMCQ-18S05MPS05 AH -DIP-6-25.4 老化测试

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ZMCQ-18S05MPS05 AH -DIP-6-25.4 老化测试

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华为HT300电源芯片测试治具

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BGA-153-0.5 BGA-169-0.5华为HT300电源芯片测试治具

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华为SD5871芯片测试治具 铝合旋钮

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BGA-580-

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苹果4SWIFI芯片测试治具

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苹果4SWIFI芯片测试治具

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苹果4S硬盘芯片测试治具

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LGA-52-苹果4S硬盘芯片测试治具

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苹果5二合一芯片测试治具

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苹果5二合一芯片测试治具

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苹果5硬盘IC测试夹具

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苹果5硬盘IC测试夹具

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